讲解:
研华数据采集卡有多种类型，根据功能分类包括3大类：模拟量输入/输出、数字量输入/输出、脉冲计数输入/输出。
对于模拟量输入(AI)有明确的采集速度指标，例如100kHz、250kHz、40MHz等等，但对于数字量输入(DI),采集速度并没明确的指标。通常DI通道根据物理结构分两类：TTL电平输入和光耦隔离输入。对于TTL电平，响应速度是几微秒（us）或是纳秒(ns)级，所以可以忽略不计；对于光耦隔离的数字量输入，响应速度受限于光隔离器的响应时间，通常是25us~100us。因此，有不少客户在应用中发现DI通道的采集速度并没有这么快。其实在实际应用中，DI通道的物理响应速度是足够快的，但，响应速度更大的因素在于计算机性能、操作系统和客户软件的执行速度来决定DI的采集速度。基于此，透过此文，介绍一种检验DI通道采集速度的方法。
正文
测试DI的响应速度有两种方法：1、使用循环方式读取DI；2、使用中断事件方式。使用循环方式，例如在程序里面使用While循环，其读取DI的速度取决于系统的性能，由于受限于系统执行速度，循环时间不固定，所以此方法测量不准确。使用中断事件方式，大部分采集卡/采集模块的DI接口都有部分的通道是具有中断响应功能，中断事件由采集卡硬件芯片发起，所以会有更快的响应快速，此方法测量更加准确。
以下分别使用这两种方式来测试DI的响应速度。
所需材料：
硬件：USB-4750(测量对象是DI通道)、信号发生器(这里使用PCI-1710的counter输出信号替代信号发生器)、示波器(用于观察输出波形，可选设备)。
软件：DAQNavi、VB.NET。
原理与架构图：
通过PCI-1710的counter out输出可调频率的脉冲至USB-4750的DI接口，使用DAQNavi系列SDK来扑捉脉冲，逐步增加脉冲频率，以观察扑捉脉冲的效果数据来判断DI响应速度。
验证效果：
分别给DI0和DI1输入100Hz、500Hz以及1000Hz三种脉冲频率来验证DI通道的响应时间，见下图。
脉冲频率100Hz，即脉冲周期是10ms；
DI0中断事件响应的时间间隔稳定准确，保证在10ms；使用While循环读取的DI1，时间间隔不太稳定，有细微误差，在10ms上下浮动。如下图：
脉冲频率500Hz，即脉冲周期是2ms：
DI0中断事件响应的时间间隔稳定准确，达到了2ms；使用While循环读取的DI1，时间间隔不稳定，误差比较明显。如下图：
脉冲频率1000Hz，即脉冲周期是1ms：
DI0中断事件响应的时间间隔稳定准确，而且能达到1ms；使用While循环读取的DI1，时间间隔不稳定，而且有明显的误差。